Electrical performance prediction based on structural measurements of partially fabricated semiconductor devices

WO2025072039 Art A1 3. April 2025

Anmelder: KLA CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025072039
Aktenzeichen
EP24873352
Anmeldetag
20. September 2024
Veröffentlichung
3. April 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/21G01N21/25G01N21/95G01R31/26G01B11/02H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KLA CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 KLA Corporation

US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.

1.908 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen