Interference type refractometer and refractive index measuring method

WO2025074875 Art A1 10. April 2025

Anmelder: SHIMADZU CORPORATION, NIKON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025074875
Aktenzeichen: EP24874484
Anmeldetag: 19. September 2024
Veröffentlichung: 10. April 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/45

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: SHIMADZU CORPORATION
NIKON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

3.497 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

5.286 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von