Aberration-free laser spot scanning apparatus for optical microscopic imaging
WO2025077046
Art A1
17. April 2025
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025077046
- Aktenzeichen
- EP24875877
- Anmeldetag
- 15. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 17. April 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/00G02B26/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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Vertreten von
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