Systems and methods to perform automatic test pattern generation on multiple memory units in parallel
WO2025080284
Art A1
17. April 2025
Anmelder: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025080284
- Aktenzeichen
- EP23955615
- Anmeldetag
- 29. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 17. April 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C29/56G11C29/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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