A method and system for monitoring a degas chamber using a photoionization detector and a residual gas analyzer
WO2025080660
Art A1
17. April 2025
Anmelder: INFICON, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025080660
- Aktenzeichen
- EP24877899
- Anmeldetag
- 9. Oktober 2024
- Veröffentlichung
- 17. April 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/64G01N27/66G01N33/00H01L21/67G01T1/185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- INFICON, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇩🇪
Inficon
Inficon ist ein Hersteller von Mess- und Analysegeräten für Vakuum- und Gasanwendungen mit Wurzeln in der Schweiz. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Metallurgietechnik. Die Titel betreffen unter anderem Bildverarbeitung für die Prozessendpunkterkennung und Sprühvorrichtungen für Prüfgas.
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