Device for testing a plurality of integrated circuits on a semiconductor wafer

WO2025082986 Art A1 24. April 2025

Anmelder: IDEMIA FRANCE 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025082986
Aktenzeichen: EP24790516
Anmeldetag: 15. Oktober 2024
Veröffentlichung: 24. April 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/04G01R1/073G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: IDEMIA FRANCE
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 Idemia France

Idemia France ist die französische Kerngesellschaft des Sicherheits- und Identitätstechnologiekonzerns Idemia mit Sitz in Frankreich. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Nachrichtentechnik, insbesondere Chipkarten und gesicherte elektronische Schaltungen. Anmeldungen laufen von 2002 bis heute.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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