Surface defect inspection device and surface defect inspection method
WO2025083995
Art A1
24. April 2025
Anmelder: HITACHI, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025083995
- Aktenzeichen
- EP24879424
- Anmeldetag
- 21. August 2024
- Veröffentlichung
- 24. April 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/952
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
21.165 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.