Inspection system, display device, inspection method, program, method for manufacturing laminate, and control device

WO2025088790 Art A1 1. Mai 2025

Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025088790
Aktenzeichen: EP23956841
Anmeldetag: 27. Oktober 2023
Veröffentlichung: 1. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01M10/04H01M10/058G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NIKON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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