Defect inspection system and defect inspection method
WO2025088900
Art A1
1. Mai 2025
Anmelder: HITACHI, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025088900
- Aktenzeichen
- EP24882017
- Anmeldetag
- 28. August 2024
- Veröffentlichung
- 1. Mai 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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