Semiconductor inspecting device and semiconductor inspecting method

WO2025089056 Art A1 1. Mai 2025

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025089056
Aktenzeichen: EP24882172
Anmeldetag: 8. Oktober 2024
Veröffentlichung: 1. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/302G01R31/28H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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