Sample holder for in-situ x-ray diffractometer

WO2025095278 Art A1 8. Mai 2025

Anmelder: KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025095278
Aktenzeichen: EP24885958
Anmeldetag: 17. Juli 2024
Veröffentlichung: 8. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20025

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Basic Science Institute

Das Korea Basic Science Institute ist eine staatliche südkoreanische Forschungseinrichtung mit Sitz in Daejeon, die wissenschaftliche Geräte und Analytik für andere Forschungseinrichtungen bereitstellt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Halbleiter- und Elektronikbauelemente. Die Anmeldungen decken den Zeitraum von 2002 bis 2025 ab.

258 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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