Fluctuation based method for determining sub-surface defects of a sample

WO2025099584 Art A1 15. Mai 2025

Anmelder: MITUTOYO CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025099584
Aktenzeichen: EP24812236
Anmeldetag: 6. November 2024
Veröffentlichung: 15. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/84G01N21/88G01N21/90G06T7/00G01N25/72G01N29/00G01N29/06G01N29/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: MITUTOYO CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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