Inspection device and inspection method

WO2025099834 Art A1 15. Mai 2025

Anmelder: YAMAHA ROBOTICS HOLDINGS CO., LTD., HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025099834
Aktenzeichen: EP23956988
Anmeldetag: 7. November 2023
Veröffentlichung: 15. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: YAMAHA ROBOTICS HOLDINGS CO., LTD.
HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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