Microscope and observation method
WO2025100080
Art A1
15. Mai 2025
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025100080
- Aktenzeichen
- EP24883574
- Anmeldetag
- 6. September 2024
- Veröffentlichung
- 15. Mai 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/06G02B7/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.