X-ray thickness measurement device
WO2025100432
Art A1
15. Mai 2025
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025100432
- Aktenzeichen
- EP24888726
- Anmeldetag
- 6. November 2024
- Veröffentlichung
- 15. Mai 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B15/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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