Method, system and computer program for x-ray inspection of a part

WO2025104404 Art A1 22. Mai 2025

Anmelder: SAFRAN, ECOLE NORMALE SUPERIEURE PARIS-SACLAY, CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025104404
Aktenzeichen: EP24821469
Anmeldetag: 14. November 2024
Veröffentlichung: 22. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G06T3/14G01N23/046G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: SAFRAN
ECOLE NORMALE SUPERIEURE PARIS-SACLAY
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 SAFRAN

Safran ist ein französischer Luftfahrt- und Verteidigungskonzern mit Sitz in Paris. Die Patente umfassen Flugzeugtriebwerke, Avionik und Landungssysteme.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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