Iterative metrology of product features
WO2025104456
Art A1
22. Mai 2025
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC, PAPAKIS, Ioannis 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025104456
- Aktenzeichen
- EP23814243
- Anmeldetag
- 17. November 2023
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/00G06T1/00G06T7/246G06T7/60G01B11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- APPLIED MATERIALS, INC
PAPAKIS, Ioannis - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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Vertreten von
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