Microparticle measuring system and microparticle measuring method

WO2025105293 Art A1 22. Mai 2025

Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025105293
Aktenzeichen: EP24891329
Anmeldetag: 8. November 2024
Veröffentlichung: 22. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N15/1434C12M1/34G01N15/00G01N15/06G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Toshiba

Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.

3.468 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik Pharma & Biotechnologie

Vertreten von

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