Method for performing a characterization of intrinsic stresses within layers of a semiconductor layer stack

WO2025108544 Art A1 30. Mai 2025

Anmelder: AMS-OSRAM INTERNATIONAL GMBH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025108544
Aktenzeichen: EP23814111
Anmeldetag: 22. November 2023
Veröffentlichung: 30. Mai 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: AMS-OSRAM INTERNATIONAL GMBH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 ams OSRAM

ams OSRAM International GmbH ist ein deutsch-österreichischer Hersteller von Sensoren und optoelektronischen Bauteilen, entstanden aus dem Zusammenschluss von ams und Osram.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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