Defect detection method and system

WO2025118498 Art A1 12. Juni 2025

Anmelder: CONTEMPORARY AMPEREX TECHNOLOGY CO., LIMITED, CONTEMPORARY AMPEREX RUNZHI SOFTWARE TECHNOLOGY LI 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025118498
Aktenzeichen
EP24899150
Anmeldetag
24. Mai 2024
Veröffentlichung
12. Juni 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
CONTEMPORARY AMPEREX TECHNOLOGY CO., LIMITED
CONTEMPORARY AMPEREX RUNZHI SOFTWARE TECHNOLOGY LI
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 CATL

Chinesisches Unternehmen mit Sitz der Konzerngesellschaft in Hongkong, das Batteriezellen und Energiespeicherlösungen für Elektrofahrzeuge und Stromnetze entwickelt und herstellt.

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