Test apparatus and test method

WO2025121020 Art A1 12. Juni 2025

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025121020
Aktenzeichen
EP24900316
Anmeldetag
23. Oktober 2024
Veröffentlichung
12. Juni 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/28G01R31/316
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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