Method for dicing semiconductor wafer and method for manufacturing semiconductor device
WO2025121166
Art A1
12. Juni 2025
Anmelder: RESONAC CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025121166
- Aktenzeichen
- EP24900461
- Anmeldetag
- 22. November 2024
- Veröffentlichung
- 12. Juni 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/301H01L21/52H01L21/60H01L21/304
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RESONAC CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Resonac
Japanischer Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, hervorgegangen aus Showa Denko. Das Unternehmen stellt unter anderem Halbleitermaterialien, Elektronikchemikalien und funktionale Chemieprodukte her.
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