Scanning probe microscope, control device, control program, and control method
WO2025126720
Art A1
19. Juni 2025
Anmelder: SHIMADZU CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025126720
- Aktenzeichen
- EP24903380
- Anmeldetag
- 5. November 2024
- Veröffentlichung
- 19. Juni 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01Q60/38G01Q30/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SHIMADZU CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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