Experimental determination method for curing shrinkage rate of adhesive
WO2025137853
Art A1
3. Juli 2025
Anmelder: SHENZHEN INSTITUTE OF ADVANCED ELECTRONIC MATERIAL, SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025137853
- Aktenzeichen
- EP23962550
- Anmeldetag
- 26. Dezember 2023
- Veröffentlichung
- 3. Juli 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N33/00G01N33/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- SHENZHEN INSTITUTE OF ADVANCED ELECTRONIC MATERIAL
SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE - Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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