Specimen inspection method and specimen inspection system

WO2025141758 Art A1 3. Juli 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025141758
Aktenzeichen: EP23963107
Anmeldetag: 27. Dezember 2023
Veröffentlichung: 3. Juli 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N33/48G01N33/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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