Chip testing method, electronic device and computer-readable medium

WO2025146074 Art A1 10. Juli 2025

Anmelder: ZTE CORPORATION 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025146074
Aktenzeichen
EP25736139
Anmeldetag
2. Januar 2025
Veröffentlichung
10. Juli 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G06F11/22
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ZTE CORPORATION
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 ZTE

Chinesisches Unternehmen der Telekommunikations- und Informationstechnik mit Sitz in Shenzhen. Entwickelt Netzwerkausrüstung, Mobilfunktechnik und Endgeräte für Telekommunikationsanbieter.

4.157 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen