Measurement apparatus and method for measuring deformation and surface microstructure of stacked sheet

WO2025156365 Art A1 31. Juli 2025

Anmelder: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025156365
Aktenzeichen: EP24919456
Anmeldetag: 4. März 2024
Veröffentlichung: 31. Juli 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/16G01B11/24G01B11/06G02B26/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Huazhong University of Science and Technology

Die Huazhong University of Science and Technology ist eine chinesische Universität mit Sitz in Wuhan und breiter technischer sowie medizinischer Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Software und Medizintechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

623 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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