Inspection device, inspection system, and inspection method
WO2025164042
Art A1
7. August 2025
Anmelder: IHI CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025164042
- Aktenzeichen
- EP24921961
- Anmeldetag
- 18. November 2024
- Veröffentlichung
- 7. August 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N29/265G21C17/013
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IHI CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
2.182 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.