Genetic test method and genetic test system
WO2025164199
Art A1
7. August 2025
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION, KINKI UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025164199
- Aktenzeichen
- EP24921952
- Anmeldetag
- 27. Dezember 2024
- Veröffentlichung
- 7. August 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C12Q1/686C12M1/00C12Q1/6837
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
KINKI UNIVERSITY - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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