System and method for online measurement of junction temperature of semiconductor device, and controller

WO2025166866 Art A1 14. August 2025

Anmelder: XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY, SHAOXING TONGYUE WIDE BANDGAP SEMICONDUCTOR RESEAR 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025166866
Aktenzeichen: EP24923094
Anmeldetag: 6. März 2024
Veröffentlichung: 14. August 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26G01R19/00G01K7/01

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY
SHAOXING TONGYUE WIDE BANDGAP SEMICONDUCTOR RESEAR
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Xi'an Jiaotong University

Die Xi'an Jiaotong University ist eine der führenden technischen Universitäten Chinas mit Sitz in Xi'an. Das Patentportfolio ist breit gestreut über Software und Datenverarbeitung, Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterbauelemente, ergänzt um Medizintechnik und elektrische Energietechnik. Anmeldungen erfolgen seit 2005 bis in die Gegenwart.

385 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von