Radiation-sensitive composition, pattern formation method, and radiation-sensitive acid generator

WO2025173494 Art A1 21. August 2025

Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025173494
Aktenzeichen
EP25754821
Anmeldetag
23. Januar 2025
Veröffentlichung
21. August 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/004C07D207/404C07D209/48C07D209/80C07D317/70C07D321/06C08F12/16C08F22/18G03F7/20G03F7/039
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JSR CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

2.270 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen