Machine Learning Assisted Pupil Metrology
WO2025176382
Art A1
28. August 2025
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025176382
- Aktenzeichen
- EP25700762
- Anmeldetag
- 15. Januar 2025
- Veröffentlichung
- 28. August 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66G01N23/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
5.380 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.