Chuck, prober having same, and wafer test system

WO2025177784 Art A1 28. August 2025

Anmelder: WELCON INC., TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025177784
Aktenzeichen: EP25758182
Anmeldetag: 28. Januar 2025
Veröffentlichung: 28. August 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66H01L21/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: WELCON INC.
TOKYO ELECTRON LIMITED
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Tokyo Electron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.

6.255 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von