Semiconductor device, composition for forgery prevention layer, method for manufacturing semiconductor device, and method for determining authenticity

WO2025192268 Art A1 18. September 2025

Anmelder: LINTEC CORPORATION, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KOBE UNIVERSITY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025192268
Aktenzeichen: EP25769955
Anmeldetag: 26. Februar 2025
Veröffentlichung: 18. September 2025
Rechtsraum: WO
IPC: H01L23/29H01L23/31B41M3/14

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: LINTEC CORPORATION
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KOBE UNIVERSITY
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Lintec

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, spezialisiert auf Klebstoffe, Klebebänder und Spezialfolien für Elektronik, Verpackung und industrielle Anwendungen.

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🇯🇵 National University Corporation Kobe University

National University Corporation Kobe University ist die staatliche Trägerorganisation der japanischen Kobe-Universität. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Pharma und Biotechnologie sowie Medizintechnik, ergänzt um Mess- und Prüftechnik und organische Chemie. Anmeldungen erfolgen seit 2005 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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