Specimen delay determination system, clinical test information system, and specimen delay determination method

WO2025192357 Art A1 18. September 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION, FUJITA ACADEMY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025192357
Aktenzeichen: EP25769933
Anmeldetag: 4. März 2025
Veröffentlichung: 18. September 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N35/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
FUJITA ACADEMY
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von