Specimen measurement chip, method for manufacturing specimen measurement chip, specimen measurement device, specimen measurement method, and specimen measurement program
WO2025192655
Art A1
18. September 2025
Anmelder: HORIBA, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025192655
- Aktenzeichen
- EP25771820
- Anmeldetag
- 12. März 2025
- Veröffentlichung
- 18. September 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N35/08G01N35/00G01N37/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HORIBA, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Horiba
Horiba ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher und analytischer Messinstrumente. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Softwarethemen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.
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