Specimen measurement chip, method for manufacturing specimen measurement chip, specimen measurement device, specimen measurement method, and specimen measurement program

WO2025192655 Art A1 18. September 2025

Anmelder: HORIBA, LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025192655
Aktenzeichen
EP25771820
Anmeldetag
12. März 2025
Veröffentlichung
18. September 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G01N35/08G01N35/00G01N37/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
HORIBA, LTD.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Horiba

Horiba ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher und analytischer Messinstrumente. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Softwarethemen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

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