Multi-surface reflection device

WO2025192710 Art A1 18. September 2025

Anmelder: TOPCON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025192710
Aktenzeichen: EP25771994
Anmeldetag: 13. März 2025
Veröffentlichung: 18. September 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/26G01S7/481G02B26/08G02B26/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TOPCON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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