Verfahren zum Erfassen von Optischen Eigenschaften eines Mikroskops, Verfahren zur Wiederherstellung der Abbildungsqualität eines Mikroskops sowie zur Durchführung des Verfahrens Geeignetes Mikroskop
WO2025196075
Art A1
25. September 2025
Anmelder: CARL ZEISS SMT GMBH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025196075
- Aktenzeichen
- EP25713588
- Anmeldetag
- 18. März 2025
- Veröffentlichung
- 25. September 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/16G02B21/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CARL ZEISS SMT GMBH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss SMT
Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.
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