Defect classification device and defect classification method

WO2025196881 Art A1 25. September 2025

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025196881
Aktenzeichen: EP24930977
Anmeldetag: 18. März 2024
Veröffentlichung: 25. September 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/2251G01N23/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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