An optical inspection device arranged for optically inspecting a semiconductor device, as well as a corresponding method

WO2025202376 Art A1 2. Oktober 2025

Anmelder: NEXPERIA B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025202376
Aktenzeichen: EP25714341
Anmeldetag: 27. März 2025
Veröffentlichung: 2. Oktober 2025
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01N21/95

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NEXPERIA B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Nexperia

Der Anmelder ist ein niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Nijmegen, der als Ausgründung aus NXP Semiconductors hervorging. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter- und Elektrobauelemente, ergänzt durch Elektronik, Schaltungstechnik und elektrische Energietechnik. Anmeldungen laufen seit 2009 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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