Inspection device and inspection method

WO2025204237 Art A1 2. Oktober 2025

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025204237
Aktenzeichen: EP25778018
Anmeldetag: 13. Februar 2025
Veröffentlichung: 2. Oktober 2025
Rechtsraum: WO
IPC: B23K26/00B23K26/53

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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