Radiation-sensitive composition, resist pattern formation method, and compound

WO2025205681 Art A1 2. Oktober 2025

Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025205681
Aktenzeichen
EP25778745
Anmeldetag
24. März 2025
Veröffentlichung
2. Oktober 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/004C07C309/10C07C309/12C07C309/17C07C309/42C07C381/12C07D295/26C07D309/12C07D317/08C07D317/70C07D321/10C07D327/04C07D333/76C07D493/08C08F212/02C08F212/14C08F220/10C09K3/00G03F7/20G03F7/039
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JSR CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

2.270 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen