Semiconductor substrate production method and composition for forming resist underlayer film
WO2025211358
Art A1
9. Oktober 2025
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025211358
- Aktenzeichen
- EP25781971
- Anmeldetag
- 1. April 2025
- Veröffentlichung
- 9. Oktober 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/11C07D215/14C07D215/20C07D215/22C07D215/50C08G14/073
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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