Method of automated spatial patterning of defect centers in a substrate

WO2025215209 Art A1 16. Oktober 2025

Anmelder: DEUTSCHES ZENTRUM FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT E. V. 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2025215209
Aktenzeichen: EP25719714
Anmeldetag: 11. April 2025
Veröffentlichung: 16. Oktober 2025
Rechtsraum: WO
IPC: C30B29/04C30B33/04G06N10/40G06N20/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: DEUTSCHES ZENTRUM FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT E. V.
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt

Deutsches Forschungszentrum für Luftfahrt, Raumfahrt, Energie und Verkehr mit Hauptsitz in Köln. Das DLR ist zugleich die deutsche Raumfahrtagentur und betreibt zahlreiche Institute im gesamten Bundesgebiet.

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Fachgebiete

Metallurgie & Oberflächentechnik Software & Datenverarbeitung

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