Measurement device, measurement method, and device to be tested
WO2025225479
Art A1
30. Oktober 2025
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025225479
- Aktenzeichen
- EP25793632
- Anmeldetag
- 16. April 2025
- Veröffentlichung
- 30. Oktober 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R33/24G01K7/36G01N24/00G01R33/032
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.