Defect inspection system and defect inspection method
WO2025234307
Art A1
13. November 2025
Anmelder: HITACHI, LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025234307
- Aktenzeichen
- EP25809690
- Anmeldetag
- 21. April 2025
- Veröffentlichung
- 13. November 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G01B11/25G01N23/18G01N27/90G01N29/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI, LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
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