Nanoparticle distribution measurement method, distribution measurement device, and multilayer body manufacturing method and manufacturing device
WO2025234406
Art A1
13. November 2025
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025234406
- Aktenzeichen
- EP25809789
- Anmeldetag
- 2. Mai 2025
- Veröffentlichung
- 13. November 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/59G01N21/21
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOHOKU UNIVERSITY
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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