Passivation for etching of semiconductor materials with seam-like defects

WO2025235908 Art A1 13. November 2025

Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025235908
Aktenzeichen
EP25810697
Anmeldetag
9. Mai 2025
Veröffentlichung
13. November 2025
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/311H01L21/3065H01L21/67
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
LAM RESEARCH CORPORATION
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

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