Passivation for etching of semiconductor materials with seam-like defects
WO2025235908
Art A1
13. November 2025
Anmelder: LAM RESEARCH CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2025235908
- Aktenzeichen
- EP25810697
- Anmeldetag
- 9. Mai 2025
- Veröffentlichung
- 13. November 2025
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/311H01L21/3065H01L21/67
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- LAM RESEARCH CORPORATION
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Lam Research
US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.
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