Method of configuring gap pattern for lcm procedures for ai/ml model

WO2025235991 Art A1 13. November 2025

Anmelder: KAZMI, Muhammad Ali, CIRIK, Ali Cagatay, DINAN, Esmael Hejazi, PARK, Kyungmin, JEON, Hyoungsuk, KHOSHKHOLGH DASHTAKI, Mohammad Ghadir, ZHOU, Hua, OFINNO, LLC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025235991
Aktenzeichen
EP25734134
Anmeldetag
12. Mai 2025
Veröffentlichung
13. November 2025
Rechtsraum
WO
IPC
H04W24/10H04W24/08
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
KAZMI, Muhammad Ali
CIRIK, Ali Cagatay
DINAN, Esmael Hejazi
PARK, Kyungmin
JEON, Hyoungsuk
KHOSHKHOLGH DASHTAKI, Mohammad Ghadir
ZHOU, Hua
OFINNO, LLC
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Ofinno

US-amerikanisches Unternehmen mit Sitz in Virginia, das Forschung und Patentierung im Bereich Mobilfunk- und Telekommunikationstechnologien betreibt.

1.097 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen