Radiation-sensitive composition and method for forming resist pattern

WO2025239227 Art A1 20. November 2025

Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2025239227
Aktenzeichen
EP25803476
Anmeldetag
1. Mai 2025
Veröffentlichung
20. November 2025
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/004C07D317/70C07D333/28C08F12/22C08F20/10G03F7/20G03F7/039
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JSR CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

2.270 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen